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簡(jiǎn)要描述:Hitachi CG4000是一款臨界尺寸掃描電子顯微鏡(CD-SEM).它專為超精細(xì)半導(dǎo)體器件而設(shè)計(jì).以下是一些主要規(guī)格和功能:分辨率:1.8nm(加速電壓:800V)重復(fù)性:±1% 或 0.3 nm (3 sigma)(采用日立標(biāo)準(zhǔn)晶圓)晶圓尺寸:300mm(200mm)產(chǎn)量:36 片晶圓/小時(shí)(晶圓上有 20 個(gè)測(cè)量點(diǎn))加速電壓:300 - 1600 V
詳細(xì)介紹
Hitachi CG4000 臨界尺寸掃描電子顯微鏡(CD-SEM)
Hitachi CG4000是一款臨界尺寸掃描電子顯微鏡(CD-SEM).它專為超精細(xì)半導(dǎo)體器件而設(shè)計(jì).
以下是一些主要規(guī)格和功能:
分辨率:1.8nm(加速電壓:800V)
重復(fù)性:±1% 或 0.3 nm (3 sigma)(采用日立標(biāo)準(zhǔn)晶圓)
晶圓尺寸:300mm(200mm)
產(chǎn)量:36 片晶圓/小時(shí)(晶圓上有 20 個(gè)測(cè)量點(diǎn))
加速電壓:300 - 1,600 V (10V步進(jìn)) (200 - 2,000 V:可選)
它提供高分辨率、高精度的計(jì)量可重復(fù)性
它包括高精度平均 CD (ACD) 計(jì)量功能
它支持行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的線邊緣粗糙度 (LER) 計(jì)量功能
它具有改進(jìn)的可操作性和自動(dòng)維護(hù)功能
該器件被廣泛用作半導(dǎo)體工藝中CD測(cè)量的主要工具.它能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級(jí)的測(cè)量精度以及高分辨率、高精度的計(jì)量可重復(fù)性和高通量.它旨在應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì)規(guī)則不斷縮小時(shí)對(duì)過(guò)程控制的嚴(yán)格要求.它是一款功能強(qiáng)大的工具,可提供寬加速電壓范圍、高靈敏度數(shù)字成像、電荷保護(hù)校正、能量濾波器功能、精確運(yùn)動(dòng)控制以及自動(dòng)樣品交換和聚焦.
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